O C4MiR – Módulo de Controlo para Adaptação de Barramento de Comunicação ao Teste e Diagnóstico de Redes de Sensores é a tecnologia desenvolvida pelo Instituto de Engenharia de Sistemas e Computadores, Tecnologia e Ciência (INESC TEC) em parceria com a Universidade do Porto. A tecnologia vai tornar os relógios e pulseiras inteligentes mais rápidos e fiáveis e acaba de ser vendida internacionalmente, com a expetativa de que tenha um impacto forte na indústria eletrónica. O sistema permite testar e calibrar os sensores dos wearables, melhorando a sua utilização ao longo do tempo de vida e reduzindo o tempo e custos de produção de chips eletrónicos.
O processo de venda começou em 2014 e ficou agora concluído, com a aquisição feita pela Allied Security Trust, uma associação tecnológica mundial sediada nos EUA e que representa alguns nomes fortes como Google, Microsoft, Spotify, Philips ou Sony, explica o comunicado de imprensa.
“Esta é a primeira vez que o INESC TEC vende uma patente, nomeadamente a uma entidade estrangeira. A venda de patentes é rara no que diz respeito a transferência de tecnologia, que normalmente acontece via spin-offs, licenciamento do uso ou por investigação sob contrato com empresas. De acordo com o relatório mais atual da Associação Europeia de Profissionais de Transferência de Tecnologia (ASTP) verifica-se que a maioria dos gabinetes de transferência de tecnologia europeus (64%) reportaram que não realizaram qualquer venda em 2020”, explica Daniel Marques Vasconcelos, responsável pelo Serviço de Apoio ao Licenciamento do INESC TEC.
A tecnologia portuguesa do C4MiR permite o autodiagnóstico de falhas nos sensores que integram os dispositivos wearables, detetando mau contato dos elétrodos com a pele ou a degradação dos circuitos, contribuindo para aumentar a fiabilidade e facilidade de calibração e manutenção destes componentes.
“O C4MiR está pronto para ser incorporado no desenvolvimento de novos produtos e serviços, promovendo a mudança no mercado de tecnologia, com impacto direto na vida das pessoas, que terão acesso a dispositivos mais confiáveis, inteligentes, e acessíveis”, explica Miguel Velhote Correia, investigador do INESC TEC, cocriador da tecnologia e professor na Faculdade Engenharia da Universidade do Porto (FEUP). Por outro lado, José Machado da Silva, também investigador do INESC TEC salienta que “a facilidade de acesso e a deteção precoce de erros de fabrico durante as fases finais de produção dos circuitos, permitem reduzir significativamente o tempo e o custo das operações de teste”.
